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美莫瑞达,美佐瑞安,张威,王仲 著
店铺: 花晨月夕图书专营店 出版社: 机械工业出版社 ISBN:9787111198086 商品编码:29893910214 包装:平装 出版时间:2007-01-01
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图书介绍
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美莫瑞达,美佐瑞安,张威,王仲 著
店铺: 花晨月夕图书专营店 出版社: 机械工业出版社 ISBN:9787111198086 商品编码:29893910214 包装:平装 出版时间:2007-01-01
基本信息
书名:电子系统测试原理
定价:39.00元
作者:(美)莫瑞达,(美)佐瑞安,张威,王仲
出版社:机械工业出版社
出版日期:2007-01-01
ISBN:9787111198086
字数:
页码:296
版次:1
装帧:平装
开本:
商品重量:0.459kg
编辑推荐
内容提要
随着电子技术的不断发展,电子系统测试面临越来越大的挑战:研究更的故障模型,在高层设计上检查易测试性,在综合过程中嵌入更有效的测试结构等。本书详细介绍了测试的基本原理和很多必需的基础知识,来面对这些挑战。
本书涉及开发可靠电子产品的非常实用的设计和测试知识,讲解设计验证的主要手段,有助于测试的设计检查;研究了如何将测试应用于*逻辑、存储器、FPGA和微处理器。后,提供了针对深亚微型设计的高级测试解决方案。读者可以通过本书深入理解测试的基本原理,并掌握众多解决方案。本书的主要内容包括:
●解释了测试在设计中的作用。
●详细讨论了扫描路径和扫描链的次序。
●针对嵌入式逻辑和存储器块的BIST解决方案。
●针对FPGA的测试方法。
●芯片系统的测试。
目录
作者介绍
Samiha Mourad博士是加利福尼亚圣克拉拉大学电子工程系教授。Yervant Zorian博士是加利福尼亚圣何塞Logic Vision公司的首席技术顾问。
文摘
序言
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