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许振嘉 著
店铺: 典则俊雅图书专营店 出版社: 科学出版社有限责任公司 ISBN:9787030194626 商品编码:29866592835 包装:圆脊精装 出版时间:2018-03-01
半导体的检测与分析(XX版) 许振嘉 电子书 下载 mobi epub pdf txt
半导体的检测与分析(XX版) 许振嘉-so88
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图书介绍
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许振嘉 著
店铺: 典则俊雅图书专营店 出版社: 科学出版社有限责任公司 ISBN:9787030194626 商品编码:29866592835 包装:圆脊精装 出版时间:2018-03-01
图书基本信息,请以下列介绍为准 | |
书名 | 半导体的检测与分析(XX版) |
作者 | 许振嘉 |
定价 | 98.00元 |
ISBN号 | 9787030194626 |
出版社 | 科学出版社有限责任公司 |
出版日期 | 2018-03-01 |
版次 | 1 |
其他参考信息(以实物为准) | ||
装帧:圆脊精装 | 开本:128开 | 重量:0.4 |
版次:1 | 字数: | 页码: |
插图 |
目录 |
内容提要 |
本书的主要内容包括:高分辨X射线衍射,光学性质检测分析,表面和薄膜成分分析,扫描探针显微学在半导体中的运用,透射电子显微学及其在半导体研究中的应用,半导体深中心的表征。以上内容包括了目前半导体材料(第三代半导体和低维结构半导体材料)物理表征的实验技术和具体应用成果。限于篇幅,不能面面俱到,所以有些实验技术,如LEED,RHEED,SIMS等,本书并未包括在内,这些问题将在*章综述里面简略阐述 |
编辑推荐 |
作者介绍 |
序言 |
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