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[美] 布伦德尔,埃文斯,麦克盖尔 编
出版社: 哈尔滨工业大学出版社 ISBN:9787560342818 版次:1 商品编码:11402699 包装:平装 丛书名: 材料表征原版系列丛书 开本:16开 出版时间:2014-01-01 用纸:胶版纸
Preface to Series x
Preface to the Reissue of Characterization of Compound
Semiconductor Processing xi
Preface xiii
Contributors xv
CHARACTERIZATION OF III—V THIN FILMS FOR
ELECTRONIC DEVICES
III—V COMPOUND SEMICONDUCTOR FILMS FOR
OPTICAL APPLICATIONS
CONTACTS
DIELECTRIC INSULATING LAYERS
OTHER COMPOUND SEMICONDUCTOR FILMS
DEEP LEVEL TRANSIENT SPECTROSCOPY: A CASE STUDY
ON GaAs
APPENDIX: TECHNIQUE SUMMARIES
化合物半导体加工中的表征 电子书 下载 mobi epub pdf txt
化合物半导体加工中的表征-so88
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图书介绍
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[美] 布伦德尔,埃文斯,麦克盖尔 编
出版社: 哈尔滨工业大学出版社 ISBN:9787560342818 版次:1 商品编码:11402699 包装:平装 丛书名: 材料表征原版系列丛书 开本:16开 出版时间:2014-01-01 用纸:胶版纸
内容简介
《化合物半导体加工中的表征(英文)》的主要内容包括: Preface to the Reissue of the Materials Characterization Series ix;Preface to Series x;Preface to the Reissue of Characterization of CompoundSemiconductor Processing xi;Preface xiii;Contributors xv等。目录
Preface to the Reissue of the Materials Characterization Series ixPreface to Series x
Preface to the Reissue of Characterization of Compound
Semiconductor Processing xi
Preface xiii
Contributors xv
CHARACTERIZATION OF III—V THIN FILMS FOR
ELECTRONIC DEVICES
III—V COMPOUND SEMICONDUCTOR FILMS FOR
OPTICAL APPLICATIONS
CONTACTS
DIELECTRIC INSULATING LAYERS
OTHER COMPOUND SEMICONDUCTOR FILMS
DEEP LEVEL TRANSIENT SPECTROSCOPY: A CASE STUDY
ON GaAs
APPENDIX: TECHNIQUE SUMMARIES
前言/序言
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